Лабораторные микроскопы серии Eclipse L

Микроскопы данной серии обеспечивают наиболее точную экспертизу новейших видов полупроводниковых пластин, благодаря самым передовым оптическим разработкам Nikon.

Промышленные микроскопы Nikon Eclipse L300N / L300ND, используя систему CFI60 Nikon, которая обеспечивает наивысший  уровень оптических характеристик, идеальны для экспертизы полупроводниковых пластин и электролюминесцентных субстратов размером до 300 мм, в том числе и в режиме эпифлуоресценции.

Категория: прямые микроскопы

Методы исследования: светлое поле, темное поле, простая поляризация, ДИК, эпифлуоресценция

Области применения: телекоммуникации и электроника, полупроводниковые пластины, телескопическая  оптика, мобильные телефоны, электробритвы и часы.