Лабораторные микроскопы серии Eclipse L

Серия инспекционных микроскопов Eclipse L200N Series с оптической системой CFI60  с моторизованной сменой  объективов идеальна для анализа, осмотра и проверки  полупроводниковых пластин, фотомасок, сеток и других образцов размером 200мм. 

L200N – модель для работы в режиме эпископического освещения

L200ND – модель для работы в режиме эпископического/диаскопического освещения

В сочетании с оптической системой CFI60 обновленная система освещения позволяет этим микроскопам получать изображения с большей контрастностью, высокой разрешающей способностью и в три раза более четкие темнопольные изображения, чем раньше. Могут эксплуатироваться самостоятельно или в сочетании с загрузчиками пластин.

Категория: прямые микроскопы

Методы исследования: светлое поле, темное поле, простая поляризация, ДИК, эпифлуоресценция (только для модели L200ND)

Области применения: телекоммуникации и электроника, полупроводниковые пластины, телескопическая  оптика, мобильные телефоны, электробритвы и часы.

Спецификация

Ссылка на сайт производителя